技術指標：

型號：

EDX 1800 B X熒光光譜儀

測試對象：

粉末、固體、液體

元素分析范圍：

硫（S）－鈾（U）

同時可測元素：

75種

含量分析范圍：

1ppm～99.99%

工作穩(wěn)定性：

總熒光強度為0.1％

測試時間：

60～200秒

檢測器分辨率：

160±5eV

多道分析器：

2048道

X射線光管：

功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo

高壓電源：

電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時小于0.05%

外型尺寸：

550mm*416mm*333mm

測量倉：

460mm*298mm*98mm

重量：

45Kg

檢出限：

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

鍍層技術參數：

可測鍍層數：

可達5層

鍍層種類：

單金屬鍍層、合金鍍層

鍍層識別精度：

分析檢出限可達2ppm，可測試0.005μm。

厚度測試范圍：

輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um

中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um

重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

計數率：

1300-8000cps