二．主要特點(diǎn)
?基于紫外-可見/純紫外全光譜測(cè)量技術(shù)，波長涵蓋（200-720）nm /（190-390）nm
?雙光束測(cè)試技術(shù)，消除光源不穩(wěn)及測(cè)試光窗不清潔帶來的測(cè)量誤差
?投入式直接測(cè)量，不需要試劑，無二次污染
?最多可測(cè)量顯示10種參數(shù)以及光譜指紋圖
三．技術(shù)規(guī)格
免費(fèi)店鋪，已到期！
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二．主要特點(diǎn)
?基于紫外-可見/純紫外全光譜測(cè)量技術(shù)，波長涵蓋（200-720）nm /（190-390）nm
?雙光束測(cè)試技術(shù)，消除光源不穩(wěn)及測(cè)試光窗不清潔帶來的測(cè)量誤差
?投入式直接測(cè)量，不需要試劑，無二次污染
?最多可測(cè)量顯示10種參數(shù)以及光譜指紋圖
三．技術(shù)規(guī)格
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